一、 測試儀的參數設置

1.頻率設置：通過“頻段選擇開關"和“振蕩頻率度盤"設定測試頻率。頻率需根據被測材料的預期電感或電容范圍，參照儀器提供的“電感、倍率、頻率"對照表進行選擇。

2.Q值量程選擇：根據預估的被測元件Q值大小，通過“Q值范圍開關"選擇合適的檔位（如10-100、20-300、50-600），以確保讀數準確。

3.定位調節(jié)：測試前需進行“定位零位校正"，并通過“定位粗調"和“定位細調"旋鈕，將“定位指示表"指針調整到“Q×1"的基準線上，以固定輸入到測試回路的高頻信號電壓（通常為10mV）。

4.電容調諧：使用“主調電容度盤"和“微調電容度盤"來調節(jié)諧振回路的電容，使其達到諧振狀態(tài)（Q值表指示zui大）。

5.零點校正：測試前需在遠離諧振點時，分別調節(jié)“定位零位校正"和“Q值零位校正"旋鈕，使相應的指示表指針歸零。

二、 試驗原理（核心：諧振法/Q表法）

1.基本思想：基于LC串聯諧振回路的特性。將被測材料（作為電容介質）與一個標準電感組成諧振回路。

2.測量過程：

    首先，在不接樣品（或接已知標準件）的情況下，調節(jié)頻率或電容使回路諧振，記錄此時的諧振電容值 \(C1\) 和品質因數 \(Q1\)。

    然后，接入被測樣品，重新調節(jié)電容使回路再次諧振，記錄新的電容值 \(C2\) 和品質因數 \(Q2\)。

3.計算公式：

    相對介電常數 (ε)：通過樣品引入后電容的變化量、樣品的幾何尺寸（厚度`d`、直徑`Φ`）計算得出。公式為：`ε = (C2  d) / (ε0  A)` 的近似推導形式（見文檔公式(1)），其中A為電極面積。

    介質損耗角正切 (tgδ)：通過樣品引入前后回路Q值的變化計算得出。公式為：`tgδ = (1/Q2 - 1/Q1)  (C1 / (C1 - C2))`（見文檔公式(2)）。

4.物理聯系：介電常數反映材料極化儲存電能的能力；介質損耗角正切反映材料在交變電場中消耗電能（轉變?yōu)闊幔┑谋嚷省?/span>Q值是損耗角正切的倒數，Q值越高表示損耗越小。

三、 操作軟件

文檔中描述的ZJD-C型高頻Q表為傳統(tǒng)臺式儀器，其操作主要依賴于面板上的旋鈕、開關和表頭進行手動調節(jié)與讀數，并未提及配套的計算機控制或數據分析軟件。整個測試流程，包括頻率設置、諧振點尋找、數據讀取和記錄，均需實驗人員手動完成。后續(xù)的數據計算（ε和tgδ）通常需要人工根據公式進行或使用計算工具處理。

四、 實驗意義

1.理解材料本質：通過測量ε和tgδ，可以深入研究電介質的極化機制、分子結構、分子運動及其與溫度、頻率的關系。

2.評價材料性能：這兩個參數是評價電介質材料電氣性能的核心指標。

    介電常數(ε)：高ε材料適用于制造小型大容量的電容器；低ε材料適用于高頻和高壓絕緣。

    介質損耗(tgδ)：低tgδ意味著能量損耗小、發(fā)熱少，材料絕緣效率高、壽命長，適用于高頻高壓設備；高tgδ材料可用于特定場合的介電加熱。

3.指導工程應用：為電子元器件（電容器、絕緣子）、通信設備、航空航天材料等領域的選擇、設計和可靠性評估提供關鍵數據。例如，防止因介質損耗過大導致的熱擊穿。

4.質量控制與研發(fā)：作為材料生產和研發(fā)過程中質量控制、配方優(yōu)化及新材料性能評估的重要手段。